Подложки оксида железа FeO

Мы сообщаем о выращивании высококачественных монокристаллических и стехиометрических пленок FeO (111) на Ru (0001) с помощью инфракрасного импульсного лазерного осаждения (IR-PLD) в диапазоне толщин от менее 1 нм до более 8 нм. Пленки характеризуются дифракцией низкоэнергетических электронов (ДМЭ), рентгеновской фотоэлектронной спектроскопией (XPS) и спектроскопией рассеяния ионов (ISS). Помимо соотношения Fe / O 1: 1, они демонстрируют некоторые неожиданные свойства, такие как отсутствие узлов Fe3 + на поверхности, симметрия поверхности (1 × 1) и большое расширение решетки. Расчеты из первых принципов показывают, что эти свойства можно понять из существования вюрцитоподобной среды на поверхности, которая сохраняет объемный антиферромагнетизм. Это расширяет применимость дефектов упаковки в качестве эффективных механизмов компенсации поверхностной полярности и предполагает, что процессы, индуцированные поверхностью, могут быть адаптированы для создания наноразмерных материалов за пределами исходной объемной фазовой диаграммы.